Rigaku

El SmartLab® SE es un difractómetro de rayos X multipropósito altamente versátil con guía inteligente incorporada. Ofrece un refinamiento continuo de sus características originales de facilidad de uso que permitieron que el SmartLab original recibiera el Premio R&D 100 en 2006: alineación automática, reconocimiento de componentes, óptica de haz cruzado y avanzados detectores híbridos de conteo de fotones de píxeles de matriz (HPAD).

El nuevo difractómetro de rayos X de sobremesa, el MiniFlex de sexta generación, es un instrumento analítico de difracción por polvo multipropósito que puede determinar: la identificación y cuantificación de fase cristalina (ID de fase), porcentaje (%) de cristalinidad, tamaño y deformación del cristalito, refinamiento de los parámetros de la red, refinamiento de Rietveld y estructura molecular. Es ampliamente utilizado en investigación, especialmente en la ciencia de los materiales y química, así como en la industria para la investigación y control de calidad. Es la última incorporación a la serie de analizadores MiniFlex de Rigaku, de difracción de rayos X de sobremesa, que comenzó con la introducción del sistema MiniFlex XRD original hace décadas.

El espectrómetro Rigaku Supermini200 no solo es una opción asequible para sus necesidades de análisis elemental XRF, sino que los costos de funcionamiento también son bajos. El gas P10 para el detector proporcional de flujo es el único consumible. El Supermini200 no requiere de una fuente de agua de refrigeración, plomería o un enfriador externo, lo que disminuye el mantenimiento del sistema, el costo total de su vida útil y los presupuestos anuales para consumibles y mantenimiento.

ZSX Guidance lo apoya en todos los aspectos de la medición XRF y el análisis de datos. ¿Puede el análisis preciso ser realizado solo por expertos? No, eso está en el pasado. El software ZSX Guidance, con la experiencia XRF incorporada y el conocimiento de expertos calificados, se encarga de las configuraciones sofisticadas. Los operadores simplemente ingresan la información básica sobre las muestras, los componentes de análisis y la composición estándar. Las líneas medidas con la menor superposición, los fondos óptimos y los parámetros de corrección (incluidas las superposiciones de líneas) se configuran automáticamente con la ayuda de espectros cualitativos.

El modelo de alto rendimiento debajo del tubo permite un análisis sin complicaciones de muestras como líquidos, aleaciones y metales chapados. Al proporcionar un rendimiento superior con la flexibilidad para analizar las muestras más complejas, el ZSX Primus IV? El espectrómetro WDXRF cuenta con una ventana de tubo Be de 30 micrones, la ventana de tubo estándar más delgada de la industria, para límites de detección de elementos ligeros (Z bajo) excepcionales.

El Micro-Z ULS de Rigaku es la solución ideal para el análisis de azufre de los combustibles a base de petróleo, con un límite bajo de detección (LLD) de 0.3 ppm de azufre. Utilizando potentes ópticas fijas en un entorno de vacío, y empleando un RX-9 doble curvado analizador de cristal, especialmente diseñado, el Micro Z ULS proporciona medidas consistentes de máxima sensibilidad.

El nuevo NANOHUNTER II de sobremesa de Rigaku, la próxima generación de espectrómetros de fluorescencia de rayos X por reflexión total (TXRF), permite el análisis elemental de alta sensibilidad de ultra trazas de líquidos a concentraciones de hasta partes por billón (ppb). La espectroscopia de fluorescencia de rayos X por reflexión total es un método donde un haz incidente de rayos X apenas roza la muestra, entregando un bajo ruido de fondo y una medición de alta sensibilidad de elementos ultratrazas.

El TXRF 3800e incluye el sistema de etapa de muestra XY-θ de Rigaku pendiente de patente, un sistema de transferencia robótica de obleas al vacío y un nuevo software de windows fácil de usar. Todo esto contribuye a un mayor rendimiento, mayor precisión, exactitud, y una operación de rutina fácil. El software opcional Sweeping TXRF permite el mapeo de la distribución de contaminantes sobre la superficie de la oblea para identificar «puntos difíciles», con exclusión de borde cero.

El TXRF 3760 incluye el sistema patentado de etapas de muestra XYθ de Rigaku, un sistema de transferencia robótica de obleas al vacío y un nuevo software de Windows fácil de usar. Todo esto contribuye a un mayor rendimiento, mayor exactitud y precisión, y una operación de rutina fácil. El software opcional Sweeping TXRF permite el mapeo de la distribución de contaminantes sobre la superficie de la oblea para identificar «áreas difíciles » que se pueden volver a medir automáticamente con mayor precisión. La capacidad opcional ZEE-TXRF supera la histórica exclusión de borde de 15 mm de los diseños originales de TXRF, lo que permite realizar mediciones con exclusión de borde cero.

El TXRF 310Fab incluye el sistema patentado de etapa de muestra XYθ de Rigaku, un sistema de transferencia robótica de obleas al vacío y un nuevo software de windows fácil de usar. Todo esto contribuye a un mayor rendimiento, mayor precisión, exactitud, y una operación de rutina fácil. El software opcional Sweeping TXRF permite el mapeo de la distribución de contaminantes sobre la superficie de la oblea para identificar «puntos difíciles» que se pueden volver a medir automáticamente con la mayor precisión.

El TXRF-V310 incluye el sistema patentado de etapa de muestra XYθ de Rigaku, un sistema de transferencia robótica de obleas al vacío y un nuevo software de windows fácil de usar. Todo esto contribuye a un mayor rendimiento, mayor precisión, exactitud, y una operación de rutina fácil. La capacidad VPD integrada permite la preparación automática de VPD de una oblea mientras se realiza una medición TXRF en otra oblea para obtener la mayor sensibilidad y alto rendimiento. VPD-TXRF elimina los cambios del operador que pueden ocurrir con ICP-MS, y VPD-TXRF puede controlarse completamente a través de la automatización de fábrica. La recuperación de VPD de áreas seleccionadas, incluido el área de bisel, está disponible.

•  La serie Rigaku CT Lab GX proporciona imágenes de micro-CT de rayos X 3D de ultra alta velocidad. Las muestras son fáciles de montar y están disponibles el modo en vivo y la obtención de imágenes in situ. Escaneo rápido de muestras estacionarias: la geometría estacionaria de muestras elimina los problemas debidos a la retención y deriva de la muestra. Las muestras se pueden colocar simplemente en el lecho de muestras sin pegamento ni cinta adhesiva y no se mueven durante los escaneos. Esta geometría, combinada con la rotación del pórtico de alta velocidad, permite la recopilación de datos a alta velocidad en 3,9 segundos por escaneo. Modo en vivo e imágenes in situ: observe cambios estructurales en tiempo real in situ con recopilación de imágenes en modo 2D en vivo o tomografías computarizadas de alta velocidad. Estas características son efectivas para observar el flujo y la difusión de líquidos o cambios estructurales causados ​​por cambios ambientales.

El CT Lab HX es un sistema de micro CT de rayos X, de sobremesa, de alto rendimiento, con la fuente de rayos X más potente de su clase (130 kV, 39W). Este sistema de imagen de micro CT compacto pero potente, puede proporcionar imágenes de rayos X tridimensionales de una amplia variedad de muestras, como placas de circuito impreso (PCB), baterías, alimentos, medicamentos, dispositivos médicos, huesos, minerales, cerámica y metales ligeros.

Rigaku nano3DX representa lo último en imágenes de rayos X a nanoescala basadas en laboratorio. Con hasta 100 veces el flujo de rayos X de las fuentes de rayos X de microfoco convencionales, el nano3DX proporciona mediciones submicrónicas 2D, 3D y 4D rápidas y reales para una amplia gama de tipos de muestras. Alta resolución: se obtienen imágenes de TC de alta calidad con una resolución submicrónica utilizando una geometría de rayos X de haz paralelo junto con un centelleador ultrafino y una lente óptica de aumento. Alto contraste para materiales más ligeros: el contraste en muestras con baja densidad (orgánicos, compuestos, cerámicos, polímeros, metales ligeros y minerales) se mejora mediante el uso de radiaciones cuasi monocromáticas de alta potencia (1200 W) de 5,4 keV a 17 keV. Alta velocidad: una combinación de una fuente de rayos X de alto flujo y un detector sCMOS mejora el rendimiento de la muestra y permite mediciones 4D de alta resolución para experimentos in situ resueltos en el tiempo.