AppNano

Acerca de AppNano

AppNano desarrolla, fabrica y suministra diversas nanoestructuras, incluidas sondas SPM convencionales y especializadas para la mayoría de las aplicaciones. Aprovechamos nuestra amplia experiencia en tecnología de nanofabricación e investigación en sondas AFM para proporcionar sondas de la más alta calidad utilizando la tecnología más avanzada del mercado. Nuestras instalaciones internas de sala limpia, combinadas con nuestras herramientas de caracterización de última generación, permiten la rápida prototipificación, adaptabilidad y versatilidad en el diseño y desarrollo de nuevos productos para nuestros clientes.

Además de proporcionar nuestro catálogo estándar de productos, se llevan a cabo continuamente importantes programas de investigación tanto internos como con colaboradores externos o clientes para desarrollar sondas y accesorios de alto rendimiento para aplicaciones avanzadas de SPM. Nuestro experimentado equipo de I+D se enorgullece de utilizar nuestro conocimiento en tecnología de nanofabricación de silicio para materializar estas nuevas ideas. 

SPM Probe

Las sondas SPM son esenciales para microscopios de alta resolución como el STM y el AFM, permitiendo la observación y manipulación de objetos a escala nanométrica. En un STM, la sonda genera una corriente túnel para mapear la topografía de la muestra a nivel atómico, mientras que en un AFM, la interacción de la punta con la muestra permite crear imágenes detalladas de la topografía y otras propiedades a nivel nanométrico. La calidad y características de las sondas SPM son cruciales para obtener resultados precisos. Empresas como AppNano se especializan en el desarrollo y suministro de estas sondas para diversas aplicaciones en nanotecnología e investigación.

Step Height Standard(SHS)

El estándar de calibración Nanuler multipropósito está diseñado para la calibración de perfiladores AFM, SEM, ópticos y mecánicos. Sus características incluyen alturas de escalón, líneas, cuadrículas, cuadro de ampliación y estructuras de medición de puntos de diferente paso. Estas características están grabadas en SiO₂ y Si, y opcionalmente disponibles con revestimiento metálico para mejorar la reflectividad y reducir la carga estática.

Módulo de microscopía térmica de barrido VertiSense™:

Módulo SThM para contraste de conductividad térmica y contraste de temperatura. Admite los modos  Contact, Tapping™ y Peak Force Tapping. Módulo enchufable, compatible con la mayoría de los AFM comerciales. Mediciones de temperatura real hasta 700° C. Amplificador de alta velocidad y ruido ultrabajo. Diseño de sonda innovador.