Tescan
Acerca de TESCAN
TESCAN es una empresa líder en el desarrollo y fabricación de microscopios electrónicos de barrido (SEM) y sistemas de microanálisis para una amplia gama de aplicaciones científicas e industriales. Con sede en la República Checa y una presencia global, TESCAN ha establecido una reputación por su innovación, calidad y fiabilidad en la industria de la microscopía electrónica. Sus productos incluyen SEM de alta resolución, microscopios de transmisión electrónica (TEM), sistemas de microanálisis de energía dispersiva de rayos X (EDS) y sistemas de microanálisis de espectroscopía de electrones Auger (AES), entre otros. TESCAN se esfuerza por proporcionar soluciones avanzadas y personalizadas para las necesidades de investigación y desarrollo de sus clientes en una variedad de campos, desde la ciencia de materiales hasta la nanotecnología y la biología celular.
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VEGA
El microscopio electrónico de barrido (SEM) de cuarta generación de TESCAN VEGA con fuente de electrones de filamento de tungsteno combina imágenes SEM y análisis de composición elemental en vivo en una sola ventana del software Essence™ de TESCAN. Esta combinación simplifica significativamente la adquisición de datos morfológicos y elementales de la muestra, lo que convierte a VEGA SEM en una solución analítica eficiente para la inspección rutinaria de materiales en control de calidad, análisis de fallas y laboratorios de investigación.
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Cada analizador térmico THEMYS encarna también nuestra propuesta de valor «Reimagina la Caracterización de Materiales». Lo hace al proporcionar los tres beneficios fundamentales para el cliente: Control Experimental, Versatilidad del Instrumento y Resultados de Calidad. Sabemos que las soluciones que ofrecen estos beneficios brindarán el mayor valor a nuestros clientes. Además de nuestros beneficios fundamentales para el cliente, podemos proporcionar soluciones personalizadas aprovechando la experiencia en ingeniería y gestión de proyectos de nuestra organización altamente capacitada.
- Themys
- Themys One / One +
- Themys Duo
- Themys HP
- Themys H2
- Themys LV
- Themys Flash
MIRA
El microscopio electrónico de barrido (SEM) de cuarta generación de TESCAN MIRA con fuente de emisión de electrones Schottky FEG combina imágenes SEM y análisis de composición elemental en vivo en una sola ventana del software Essence™ de TESCAN. Esta combinación simplifica significativamente la adquisición de datos morfológicos y elementales de la muestra, lo que convierte a MIRA SEM en una solución analítica eficiente para la inspección rutinaria de materiales en control de calidad, análisis de fallas y laboratorios de investigación.
CLARA
UHR SEM analítico sin campo para la caracterización de materiales a nanoescala. Caracterización sin concesiones de todo tipo de materiales a nanoescala. Ideal para la caracterización de materiales con energías de haz bajas para una topografía superficial máxima. Excelente obtención de imágenes de muestras no conductoras y sensibles al haz. Configuración totalmente automatizada del haz de electrones: las condiciones óptimas de obtención de imágenes están garantizadas por In-Flight Beam Tracing™. Navegación SEM intuitiva en vivo en la muestra con un aumento tan bajo como 2× sin la necesidad de una cámara de navegación óptica adicional gracias al diseño Wide Field Optics™. Diseño exclusivo de multidetector en haz que permite la detección BSE selectiva de ángulo y energía. Plataforma modular de software intuitiva diseñada para una operación sin esfuerzo independientemente del nivel de habilidad de los usuarios.
MAGNA
UHR SEM para la caracterización de nanomateriales a escala subnanométrica. Imágenes de alta resolución y alto contraste de materiales de próxima generación (por ejemplo, estructuras catalíticas, nanotubos, nanopartículas y otras estructuras a nanoescala). Excelente plataforma adecuada para metrología SEM/STEM a escala subnanométrica. Configuración rápida del haz de electrones: las condiciones de imagen óptimas están garantizadas por In-Flight Beam Tracing™. Sistema multidetector TriBE™ y TriSE™ para nanocaracterización de muestras. Plataforma modular de software intuitiva diseñada para una operación sin esfuerzo independientemente del nivel de habilidad de los usuarios.
TIMA
TESCAN TIMA proporciona una solución versátil para petrógrafos y geocientíficos, permitiéndoles realizar gran parte de su trabajo analítico en esta única solución. TIMA produce datos de composición química y mineral de alta calidad y precisión, incluso para pequeñas concentraciones de elementos, para que la clasificación de rocas y la caracterización textural sean rápidas y sencillas. Al utilizar análisis elemental para proporcionar datos cuantitativos para la identificación de minerales, TIMA ofrece datos objetivos y reproducibles en los que puede confiar. Y para garantizar que los operadores de TIMA puedan ponerse a trabajar directamente y trabajar de manera eficiente, el sistema operativo de TIMA presenta flujos de trabajo integrados específicos de la aplicación, junto con una base de datos de prácticamente todas las especies minerales aprobadas por la Asociación Mineralógica Internacional (alrededor de 5000 entradas) para facilitar la tarea de Interpretar la presencia de minerales es mucho más fácil.
AMBER
AMBER
TESCAN AMBER para ciencias biológicas representa una solución Ga FIB-SEM de vanguardia que ofrece capacidades multifuncionales para el análisis estructural de muestras biológicas. Combina a la perfección las capacidades de fresado de alta precisión de un Ga FIB con un BrightBeam™ UHR SEM para la exploración subterránea de una amplia gama de muestras biológicas, tanto a temperatura ambiente como criogénica. Con su diseño excepcional, TESCAN AMBER satisface eficazmente los diversos y desafiantes requisitos de los centros e institutos de investigación.
AMBER X
El TESCAN AMBER X es un microscopio electrónico de barrido por haz de iones de plasma enfocado de alto rendimiento (FIB-SEM) para análisis de volúmenes extragrandes y aplicaciones criogénicas de alto rendimiento. Equipado con la columna iFIB+, TESCAN AMBER X admite aplicaciones crio-FIB realizadas anteriormente con sistemas Ga FIB, en una fracción del tiempo con las tasas de eliminación de material ultrarrápidas inherentes al plasma FIB. Las características ocultas en lo profundo del interior de la muestra pueden quedar expuestas en cuestión de minutos, en comparación con el uso del fresado tradicional Ga FIB, que llevaría varias horas. AMBER X crio se adapta bien a materiales biológicos duros, como huesos o caparazones, que pueden seccionarse fácilmente con la precisión que se espera de un sistema FIB. Los métodos patentados de prevención de artefactos de TESCAN permiten la tomografía 3D FIB-SEM de tejidos blandos, materiales porosos o regiones con dureza variable sin la necesidad de eliminar las franjas artificiales en el posprocesamiento de imágenes. El excepcional campo de visión FIB de AMBER X cubre hasta 1 mm para análisis transversales y de gran volumen.
SOLARIS
SOLARIS
Imágenes de ultra alta resolución de bajo kV de dispositivos semiconductores de alta gama. Puntería final precisa con energías de haz de electrones bajas. Dilución suave de FIB para mejorar la calidad de los resultados en la preparación de muestras TEM gracias al excelente rendimiento del haz de iones de bajo kV. Flujos de trabajo y recetas optimizados para una fácil preparación de láminas TEM ultrafinas. Módulo de software semiautomático para la preparación de láminas TEM específicas del sitio. Preparación de laminillas TEM de geometría avanzada a partir de los nodos semiconductores más avanzados. Carrusel de escenario especializado y compatible con bloqueo de carga para la preparación de muestras TEM. Soportes de rejilla TEM dedicados con geometría totalmente optimizada para una preparación avanzada de muestras TEM.
SOLARIS X
Corte transversal de gran área sin cortinas para el análisis de fallos físicos de tecnologías de embalaje avanzadas. Prepare secciones transversales FIB de gran superficie de hasta 1 mm de ancho. Obtenga imágenes de alta resolución y bajo ruido con keV bajos en un tiempo de adquisición corto en coincidencia FIB-SEM con la muestra inclinada. Monitoreo SEM en vivo durante el fresado FIB para un punto final preciso. Observe los materiales más sensibles al haz utilizando resolución ultraalta de bajo keV para sensibilidad de superficie y alto contraste de material. Técnicas y recetas efectivas para cortes transversales rápidos y sin artefactos de muestras compuestas (pantallas OLED y TFT, dispositivos MEMS, dieléctricos de aislamiento) a altas corrientes. Interfaz de usuario modular fácil de usar Essence™.
TENSOR
4D-STEM es el método de microscopía elegido para la caracterización multimodal a nanoescala real de propiedades de materiales como morfología, química y estructura. En cada píxel del conjunto de datos STEM, TESCAN TENSOR adquiere un patrón de difracción y un espectro EDS, de forma rápida y perfectamente sincronizada. Juntos, los datos de difracción y espectroscopia encapsulan la imagen completa de la interacción entre el haz de electrones y la muestra, de la que se puede derivar una amplia gama de propiedades del material.
SPECTRAL UniTOM XL
SPECTRAL CT proporciona contraste donde la micro-CT convencional no puede y revela información sobre la composición de una muestra al observar todo el espectro de rayos X utilizado para obtener imágenes de una muestra. SPECTRAL CT revela esta información química en cualquier punto dentro de una muestra de forma no destructiva y la combina con información estructural de alta calidad sobre la misma muestra. Por primera vez en un sistema micro-CT comercial, podemos adquirir datos químicos, como la identificación de metales preciosos para minería y reciclaje, diferenciar entre diferentes polímeros en muestras diseñadas u optimizar el contraste en muestras biológicas.
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